Pracownia Rentgenowskiej Analizy Strukturalnej

Pracownia Rentgenowskiej Analizy Strukturalnej wyposażona jest w dyfraktometr z płytą obrazującą IPDS 2T firmy STOE (www.stoe.com) – jest to pierwszy tego typu dyfraktometr w Polsce. Aparat posiada dwa źródła promieniowania – Mo i Cu. Każde źródło promieniowania typu mikroogniskowego (firmy Xenocs) wzmocnione jest dodatkowo poprzez specjalną optykę. Wpływa to znacznie na poprawę skupienia wiązki promieniowania, co w rezultacie pozwala na prowadzenie pomiarów dla bardzo małych monokryształów. Dyfraktometr wyposażony jest w przystawkę do termostatowania kryształów firmy Oxford Cryosystem. Umożliwia ona wykonywanie pomiarów w zakresie temperatur od 100 do 400 K. Obecność przystawki do termostatowania pozwala na pomiar kryształów wrażliwych na obecność tlenu i wilgoci, a przeprowadzanie pomiarów w niskich temperaturach zdecydowanie poprawia jakość danych pomiarowych.

Ponadto na stanie Pracowni znajduje się dyfraktometr KM4 (Kuma Diffraction) z detektorem CCD (Oxford Diffraction) i lampą molibdenową z monochromatorem grafitowym (Mo).

Czas pracy

Dyfraktometr STOE pracuje w trybie ciągłym (24 godziny na dobę, 7 dni w tygodniu) z wyjątkiem czasu przeznaczonego na konserwację i serwis.

Zasady użytkowania wszystkich urządzeń znajdujących się w laboratorium

Samodzielny dostęp do spektrometrów mają jedynie przeszkoleni użytkownicy. W innym przypadku przebywanie w laboratorium możliwe jest tylko w obecności operatora. Osoby zainteresowane przeprowadzeniem pomiarów proszone są o zgłaszanie się do przeszkolonych pracowników wymienionych poniżej: Osoby uprawnione do obsługi dyfraktometru:

  • dr hab. inż. Jarosław Chojnacki
    pomiary X-ray, problemy techniczne
  • dr hab. inż. Anna Dołęga
    pomiary X-ray
  • dr hab. Katarzyna Kazimierczuk
    pomiary X-ray
  • dr inż. Łukasz Ponikiewski
    pomiary X-ray, problemy techniczne